Controlar a composição e a espessura dos circuitos integrados e componentes eletrônicos é a chave para aumentar sua confiabilidade e eficiência energética. Oferecemos soluções analíticas rápidas e não destrutivas para determinar o dispositivo e a composição e espessura de suas camadas, também necessárias na triagem de materiais perigosos.

Com a crescente presença de dispositivos eletrônicos, o lixo eletrônico também está sendo produzido mais rápido do que nunca. Nos últimos anos, diversos países estabeleceram vários regulamentos para promover a reciclagem de lixo eletrônico e reduzir os riscos à saúde e ao meio ambiente associados ao aumento na produção de lixo eletrônico. A diretiva RoHS , que faz restrição do uso de certas substâncias perigosas, é um daqueles conjuntos de regras que visam reduzir a entrada de materiais perigosos em fluxos de lixo eletrônico, restringindo seu uso em equipamentos eletrônicos. Esses materiais restritos incluem metais pesados ​​(chumbo, mercúrio, cádmio), cromo hexavalente, retardadores de chama polibromados (PBB e PBDE) e ftalatos.

A fluorescência de raios-X (XRF) oferece um método rápido e não destrutivo de triagem para esses elementos perigosos. A análise de por pontos é importante para uma análise bem-sucedida, uma vez que o feixe de análise deve corresponder ao tamanho da amostra, o que torna o M1 MISTRAL micro-XRF a escolha perfeita para a triagem RoHS. Para a triagem RoHS, o colimador selecionável entre 0,4 mm e 1,5 mm permite uma análise precisa em componentes e cabos individuais, bem como amostras em massa (metais, solda, matérias-primas) e grandes placas de circuito.