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M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

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M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

O M4 TORNADOPLUS é o primeiro espectrômetro Micro-XRF do mundo que permite a deteção e a análise de toda a gama de elementos, desde elementos leves como o Carbono (C), até o Amerício (Am). Como o mais recente membro da comprovada família líder de mercado de analisadores µXRF, o M4 TORNADOPLUS também oferece recursos exclusivos adicionais, como um inovador sistema de gerenciamento de abertura do feixe (AMS), um processador de pulso de processamento ultra-alto e um estágio de amostra flexível de troca rápida.

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M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

M4 TORNADO PLUS - Espectrômetro de micro-Fluorescência
M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

A M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência de Raios X (µ-XRF) é uma poderosa ferramenta para mapeamento não destrutivos de elementos em tecidos e outras matrizes biológicas, plantas, insetos, biomateriais, metais, amostras geológicas, polímeros. O espectrômetro M4 TORNADOPLUS oferece análise de distribuição elementar com ótima resolução espacial e sensibilidade incrível, podendo analisar elementos de Carbono (C) a Amerício (Am), em limites de detecção até ppm, particularmente para metais de transição. O mapeamento de alta velocidade, “on-the-fly”, com condições de análise flexíveis, torna estes espectrômetros não apenas rápidos, mas também capazes de medir rapidamente imagens espectrais de alta qualidade e alto detalhe. Um dos principais benefícios é que nenhuma preparação de amostra é necessária.

A nova era em Espectrometria de micro-Fluorescência de Raios X (µXRF)

O M4 TORNADOPLUS é o primeiro espectrômetro µXRFdo mundo que permite a detecção e a análise de toda a gama de elementos, desde elementos leves como o Carbono (C), até o Amerício (Am). Como o mais recente membro da comprovada família líder de mercado de analisadores µXRF, oM4 TORNADOPLUS  também oferece recursos exclusivos adicionais, como um inovador sistema de gerenciamento de abertura do feixe (AMS), um processador de pulso de processamento ultra-alto e um estágio de amostra flexível de troca rápida.

Deteção exclusiva de elementos leves – analisando até Carbono (C)

Utilizando dois detetores de desvio de Silício (SDD) de grande área, até 100 mm2, com janela de elemento super leve e um tubo de raios X Rh por padrão, opcionalmente de Mo, Ag, Cu, W para aplicações específicas, o M4 TORNADOPLUS é o primeiro espectrômetro µXRF a permitir a análise de elementos ultra-leves. Ao contrário dos sistemas comuns µXRF, que são adequados para detetar elementos a partir de Sódio (Na), oM4 TORNADOPLUS também permite medir elementos com números atômicos Z <11, tais como Flúor (F), Oxigênio (O), Nitrogênio (N) e Carbono, além de melhorar o desempenho e a sensibilidade na faixas de energia mais altas tais como Sódio (Na), Magnésio (Mg), Alumínio (Al), Silício (Si) e Fósforo (P). Com este aprimoramento de desempenho, novas aplicações estão se abrindo para o Espectrometria de microFluorescência de Raios X (µXRF), por exemplo, em geociências e mineração, biologia, pesquisa de polímeros ou indústria de semicondutores.

Duas vezes a taxa de transferência – medições ultra rápidas

As versões anteriores de detetores SDD duplos do M4 TORNADOPLUS já foram tendências neste sentido, fornecendo uma taxa de saída de até 260 kcps com excelente resolução de energia. Com sua capacidade exclusiva de processar até 1.200 kcps e fornecer uma taxa de contagem de saída de até 550 kcps, oM4 TORNADOPLUS aumenta significativamente esses limites, permitindo velocidade e produtividade de aquisição incomparáveis.

Sistema de gerenciamento de abertura do feixe (AMS) – melhor profundidade de campo e resolução

M4 TORNADO PLUS - Espectrômetro de micro-Fluorescência
M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

Muitas amostras a serem investigados usando µXRF possuem superfícies topográficas irregulares, em vez de serem perfeitamente planas. Portanto, assim como na fotografia, a profundidade de campo torna-se um parâmetro importante para o sistema ótico de Raios X usado para gerar o pequeno ponto de excitação na superfície da amostra. Geralmente, em analisadores µXRF com ótica de Raios X de alta resolução espacial (7 µm), a distância de trabalho precisa ser tão pequena quanto 2 µm e a profundidade alcançável de campo é menor que 1 mm.

O inovador sistema de gerenciamento de abertura de feixe (AMS) controlado por software do M4 TORNADOPLUS permite uma distância de trabalho de aproximadamente 9 mm e fornece uma profundidade de campo de até 5 mm. Isso significa que a resolução espacial não se perde e os recursos da amostra são mantidos em foco, mesmo que a superfície da amostra varie em vários milímetros. Isto faz doM4 TORNADOPLUS o instrumento de escolha para a análise de amostras com topografia irregulares, por exemplo em aplicações em eletrônica, ciência forense ou geociência.

Estágio de Amostra de Troca Rápida – manuseio de amostras mais fácil, flexível, rápido e seguro

O M4 TORNADOPLUS também oferece uma interface de estágio de amostra de troca rápida e um núcleo de broca especial opcional e transportadores de secção fina. Esses acessórios permitem que as amostras sejam colocadas e fixadas de forma rápida e segura em uma placa removível e facilitam a fixação ou troca de amostras para uma análise mais rápida e mais segura, bem como a reanálise. Isso economiza tempo tanto na troca de amostras quanto na configuração de medição, pois as amostras estarão sempre na mesma altura e posição.

Trocador de colimador do tubo de Raios X secundário – maior flexibilidade ao analisar linhas de alta energia

M4 TORNADO PLUS - Espectrômetro de micro-Fluorescência
M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

O Trocador de colimador do tubo de Raios X de foco fino secundário do novo M4 TORNADOPLUS é equipado com um trocador de colimador de quatro posições totalmente controlado por software, expandindo a flexibilidade do tamanho do ponto de 500 µm a 4,5 mm. Isso permite um pequeno ponto colimado, embora com menor intensidade, ou um grande espaçador de alta intensidade para análises de FRX comuns. O resultado é mais flexibilidade ao analisar estruturas maiores ou trabalhar com linhas de raios X de alta energia.

Purga de Hélio (He) Multi-Funcional Controlada por Computador – analisa elementos leves sem vácuo

Para certas amostras, tais como as biológicas e líquidos, a medição sob vácuo representa um problema porque eles são sensíveis à variação de pressão ou podem secar. Mesmo que o trabalho no ar ambiente seja sempre possível, a Fluorescência de Raios X dos elementos leves abaixo do Cálcio (C) é fortemente atenuada ou mesmo completamente absorvida. A fim de detetar elementos leves e super leves até o Carbono (C) em amostras sensíveis ao vácuo, o M4 TORNADOPLUS oferece um sistema de purga He opcional controlada por computador para estender a faixa de análise sob pressão atmosférica. Dois diferentes modos de purga podem ser empregados, dependendo dos requisitos analíticos específicos. Para uma análise rápida de um ou vários pontos, a purga de alto fluxo local da posição de medição é suficiente para adquirir de maneira confiável os Raios X de baixa energia.

  • Para informações adicionais acesse: www.bruker.com.br
  • Acesse nosso Blog para ficar por dentro de todas as novidades: Saiba Mais!

Especificações Técnicas

Vídeos

O M4 TORNADOPLUS é o primeiro Espectrômetro µ-XRF do mundo que permite a detecção e análise de toda a gama de elementos, de Carbono a Amerício.

A nova era em Espectrometria de micro-Fluorescência de Raios X (µXRF)

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