M4 TORNADO PLUS - Espectrômetro de micro-Fluorescência

M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência

A M4 TORNADO PLUS – Espectrômetro de micro-Fluorescência de Raios X (µ-XRF) é uma poderosa ferramenta para mapeamento não destrutivos de elementos em tecidos e outras matrizes biológicas, plantas, insetos, biomateriais, metais, amostras geológicas, polímeros. O espectrômetro M4 TORNADO^PLUSoferece análise de distribuição elementar com ótima resolução espacial e sensibilidade incrível, podendo analisar elementos de Carbono (C) a Amerício (Am), em limites de detecção até ppm, particularmente para metais de transição. O mapeamento de alta velocidade, “on-the-fly”, com condições de análise flexíveis, torna estes espectrômetros não apenas rápidos, mas também capazes de medir rapidamente imagens espectrais de alta qualidade e alto detalhe. Um dos principais benefícios é que nenhuma preparação de amostra é necessária.

A nova era em Espectrometria de micro-Fluorescência de Raios X (µXRF)

O M4 TORNADO^PLUS é o primeiro espectrômetro µXRFdo mundo que permite a detecção e a análise de toda a gama de elementos, desde elementos leves como o Carbono (C), até o Amerício (Am). Como o mais recente membro da comprovada família líder de mercado de analisadores µXRF, oM4 TORNADO^PLUS também oferece recursos exclusivos adicionais, como um inovador sistema de gerenciamento de abertura do feixe (AMS), um processador de pulso de processamento ultra-alto e um estágio de amostra flexível de troca rápida.

Deteção exclusiva de elementos leves – analisando até Carbono (C)

Utilizando dois detetores de desvio de Silício (SDD) de grande área, até 100 mm2, com janela de elemento super leve e um tubo de raios X Rh por padrão, opcionalmente de Mo, Ag, Cu, W para aplicações específicas, o M4 TORNADO^PLUSé o primeiro espectrômetro µXRF a permitir a análise de elementos ultra-leves. Ao contrário dos sistemas comuns µXRF, que são adequados para detetar elementos a partir de Sódio (Na), oM4 TORNADO^PLUS também permite medir elementos com números atômicos Z <11, tais como Flúor (F), Oxigênio (O), Nitrogênio (N) e Carbono, além de melhorar o desempenho e a sensibilidade na faixas de energia mais altas tais como Sódio (Na), Magnésio (Mg), Alumínio (Al), Silício (Si) e Fósforo (P). Com este aprimoramento de desempenho, novas aplicações estão se abrindo para o Espectrometria de microFluorescência de Raios X (µXRF), por exemplo, em geociências e mineração, biologia, pesquisa de polímeros ou indústria de semicondutores.

Duas vezes a taxa de transferência – medições ultra rápidas

As versões anteriores de detetores SDD duplos do M4 TORNADO^PLUSjá foram tendências neste sentido, fornecendo uma taxa de saída de até 260 kcps com excelente resolução de energia. Com sua capacidade exclusiva de processar até 1.200 kcps e fornecer uma taxa de contagem de saída de até 550 kcps, oM4 TORNADO^PLUS aumenta significativamente esses limites, permitindo velocidade e produtividade de aquisição incomparáveis.

Sistema de gerenciamento de abertura do feixe (AMS) – melhor profundidade de campo e resolução

Muitas amostras a serem investigados usando µXRF possuem superfícies topográficas irregulares, em vez de serem perfeitamente planas. Portanto, assim como na fotografia, a profundidade de campo torna-se um parâmetro importante para o sistema ótico de Raios X usado para gerar o pequeno ponto de excitação na superfície da amostra. Geralmente, em analisadores µXRF com ótica de Raios X de alta resolução espacial (7 µm), a distância de trabalho precisa ser tão pequena quanto 2 µm e a profundidade alcançável de campo é menor que 1 mm.

O inovador sistema de gerenciamento de abertura de feixe (AMS) controlado por software do M4 TORNADO^PLUSpermite uma distância de trabalho de aproximadamente 9 mm e fornece uma profundidade de campo de até 5 mm. Isso significa que a resolução espacial não se perde e os recursos da amostra são mantidos em foco, mesmo que a superfície da amostra varie em vários milímetros. Isto faz doM4 TORNADO^PLUS o instrumento de escolha para a análise de amostras com topografia irregulares, por exemplo em aplicações em eletrônica, ciência forense ou geociência.

Estágio de Amostra de Troca Rápida – manuseio de amostras mais fácil, flexível, rápido e seguro

O M4 TORNADO^PLUStambém oferece uma interface de estágio de amostra de troca rápida e um núcleo de broca especial opcional e transportadores de secção fina. Esses acessórios permitem que as amostras sejam colocadas e fixadas de forma rápida e segura em uma placa removível e facilitam a fixação ou troca de amostras para uma análise mais rápida e mais segura, bem como a reanálise. Isso economiza tempo tanto na troca de amostras quanto na configuração de medição, pois as amostras estarão sempre na mesma altura e posição.

Trocador de colimador do tubo de Raios X secundário – maior flexibilidade ao analisar linhas de alta energia

O Trocador de colimador do tubo de Raios X de foco fino secundário do novo M4 TORNADO^PLUSé equipado com um trocador de colimador de quatro posições totalmente controlado por software, expandindo a flexibilidade do tamanho do ponto de 500 µm a 4,5 mm. Isso permite um pequeno ponto colimado, embora com menor intensidade, ou um grande espaçador de alta intensidade para análises de FRX comuns. O resultado é mais flexibilidade ao analisar estruturas maiores ou trabalhar com linhas de raios X de alta energia.

Purga de Hélio (He) Multi-Funcional Controlada por Computador – analisa elementos leves sem vácuo

Para certas amostras, tais como as biológicas e líquidos, a medição sob vácuo representa um problema porque eles são sensíveis à variação de pressão ou podem secar. Mesmo que o trabalho no ar ambiente seja sempre possível, a Fluorescência de Raios X dos elementos leves abaixo do Cálcio (C) é fortemente atenuada ou mesmo completamente absorvida. A fim de detetar elementos leves e super leves até o Carbono (C) em amostras sensíveis ao vácuo, o M4 TORNADO^PLUSoferece um sistema de purga He opcional controlada por computador para estender a faixa de análise sob pressão atmosférica. Dois diferentes modos de purga podem ser empregados, dependendo dos requisitos analíticos específicos. Para uma análise rápida de um ou vários pontos, a purga de alto fluxo local da posição de medição é suficiente para adquirir de maneira confiável os Raios X de baixa energia.