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M6 JETSTREAM | Espectrômetro micro-Fluorescência

M6 JETSTREAM espectrômetro micro-fluorescência
Início » Fluorescência de Raios X (XRF) » Microfluorescência de Raios X (microXRF) » M6 JETSTREAM | Espectrômetro micro-Fluorescência
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M6 JETSTREAM espectrômetro micro-fluorescência
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M6 JETSTREAM | Espectrômetro micro-Fluorescência

O M6 JETSTREAM é um Espectrômetro de micro-Fluorescência de Raios X (µXRF) e foi projetado para a análise elementar não destrutiva de amostras grandes. A mobilidade do instrumento permite que ele seja colocado no local do objeto de interesse, seja em uma galeria, museu ou no chão de fábrica. Os parâmetros de desempenho permitem áreas de digitalização de 800 mm x 600 mm com um tamanho de ponto variável até 100 µm e velocidades de até 100 mm/s. Como o sistema é capaz de medir “on-the-fly”, isso resulta em um tempo de permanência de pixel de apenas 1 ms.

Categorias

Fluorescência de Raios X (XRF)

Microfluorescência de Raios X (microXRF)

Tags

amostras grandes

análise elementar

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espectrômetro

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M6 JETSTREAM espectrômetro micro-fluorescência

M6 JETSTREAM espectrômetro micro-fluorescência
M6 JETSTREAM espectrômetro micro-fluorescência

O M6 JETSTREAM – Espectrômetro de micro-Fluorescência, é um Espectrômetro de micro-Fluorescência de Raios X (µXRF) e foi projetado para a análise elementar não destrutiva de amostras grandes. A mobilidade do instrumento permite que ele seja colocado no local do objeto de interesse, seja em uma galeria, museu ou no chão de fábrica. Os parâmetros de desempenho permitem áreas de digitalização de 800 mm x 600 mm com um tamanho de ponto variável até 100 µm e velocidades de até 100 mm/s. Como o sistema é capaz de medir “on-the-fly”, isso resulta em um tempo de permanência de pixel de apenas 1 ms.

 

Análise de distribuição elementar para grandes amostras com maior desempenho:

  • O equipamento de medição MET JETSTREAM pode trabalhar inclinado, permitindo que as amostras sejam escaneadas horizontalmente ou verticalmente
  • O tamanho do ponto do JETSTREAM M6 pode ser adaptado em cinco etapas para corresponder à estrutura da amostra e à resolução espacial desejada
  • Os avançados detectores de desvio de silício XFlash® (SDD) da Bruker são usados ​​para a detecção de radiação de fluorescência. Eles apresentam alta capacidade de taxa de contagem e melhor resolução de energia em uma ampla faixa de taxa de contagem
  • Circuito de segurança especial oferece proteção ideal ao usuário contra exposição a Raios X
  • A medição de distância de ultrassom protege contra colisão com o objeto de medição
  • Independentemente do tamanho da amostra, o MET JETSTREAM pode ser facilmente posicionado devido à sua mobilidade
  • Pode ser desmontado em quatro partes, o que o torna transportável
  • Para informações adicionais acesse: www.bruker.com.br
  • Acesse nosso Blog para ficar por dentro de todas as novidades: Saiba Mais!

Aplicações

Análise de Pinturas Históricas
O desempenho analítico dos instrumentos µXRF depende das condições de medição. Os parâmetros devem ser selecionados cuidadosamente de acordo com a tarefa requerida:

Resolução espacial
A resolução espacial de uma medição sensível à posição é influenciada por diferentes fatores, como tamanho do ponto, tamanho do passo e intensidade medida.

Tamanho do ponto
O tamanho do ponto é um dos principais fatores que influenciam a resolução espacial das imagens. Geralmente é medido com o método de ponta de faca. Essa técnica mede a intensidade do feixe como uma função da posição, realizando uma varredura de linha através da borda do shap de um material.

Tamanho do passo
Outros fatores que influenciam a resolução espacial das imagens de distribuição elementar são o tamanho do pixel e o contraste entre os pixels. Em μXRF, o tamanho do pixel é determinado não apenas pelo tamanho do ponto, mas também pelo tamanho do passo. A resolução espacial pode ser melhorada se o tamanho do passo for menor que o tamanho do ponto. Por outro lado, um nível mínimo de intensidade é necessário para um bom contraste entre os pixels vizinhos. A intensidade do pixel pode ser alterada variando o tempo de aquisição por pixel. De acordo com esses fatos, o tamanho do passo e a intensidade do pixel precisam ser otimizados para um determinado tamanho de ponto.

Catálogos

          

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