D8 ADVANCE | Difração de Raios X (XRD)
O D8 ADVANCE é um Difratômetro de Raios X (XRD) projetado para todas as aplicações de espalhamento e difração de raios X.O D8 ADVANCE é capaz de medir todos os tipos de amostras, sejam elas líquidas, pós soltos, filmes finos ou blocos sólidos, é possível medir no mesmo instrumento.
Além disso, realiza:
- Análise da Função de Distribuição de Pares (PDF)
- Difração de Pó de Raios X tradicional (XRD)
- Espalhamento de Raios X de pequeno e grande ângulo (SAXS, WAXS)
- XRR (reflectometria) e HRXRD (curvas de balanço, mapeamento de espaço recíproco) em condições ambientais e não ambientais
Além disso, o DAVINCI.DESIGN da Bruker trás o diferencial de permitir alterações de configurações de maneira fácil, rápida e intuitiva para usuários iniciantes.
No mercado apenas a Bruker oferece uma garantia de alinhamento, baseado na referência padrão NIST SRM1976. Se tornando o equipamento mais preciso do mercado, em termos de posição de pico, intensidade e resolução.
O D8 ADVANCE está disponível em três versões:
D8 ADVANCE Eco
Com uma fonte de raios X de foco de linha de 1kW de alto brilho, a versão ECO possuí um consumo de energia menor (50% a menos), não requer refrigeração externa de água e não possui requisitos especiais em relação à infraestrutura do laboratório.
O D8 ADVANCE ECO tem um custo mínimo e a menor pegada ecológica de qualquer instrumento XRD de piso. Tudo isso sem sacrificar o desempenho analítico.
Além disso, para garantir uma menor despesa operacional o D8 ADVANCE Eco possui:
- Garantia do tubo de raios X: Todas as fontes de raios X de alto brilho disponíveis para o D8 ADVANCE ECO vêm com uma garantia de 3 anos
- Garantia do goniômetro: O design robusto e livre de manutenção do goniômetro oferece máxima resistência mecânica, longa vida útil e, portanto, qualidade de dados superior. Isso inclui uma excelente garantia de 10 anos.
Para mais informações sobre a versão Eco, clique aqui.
D8 ADVANCE
O caminho do feixe óptico TWIN/TWIN é uma patente que simplifica o uso do D8 ADVANCE, permitindo uma grande variedade de aplicações e de amostras.
Com a procura de facilitar o uso, possui uma comutação automática e motorizada entre 4 geometrias de feixes diferentes. Ainda sem a necessidade de intervenção do usuário, o sistema também é capaz de alternar o foco entre Bragg-Brentano para pós e geometria de feixe paralelo para amostras de formato irregulas, revestimentos, filmes finos e mais.
Pode ser usado para qualquer tipo de amostra, em pó, fibra, folha, filme fino (seja ele amorfo, policristalino ou epitaxial).
Otimização de Feixe Dinâmico™ (DBO)
A otimização de feixes faz com que haja uma sincronização automátia de fendas de divergência. Além de possui uma tela anti-dispersão automática, e a janela de dector ativo de campo de visão variável, fornecendo uma qualidade de dados incomparável ainda mais em baixos ângulos 2Ɵ.
Detector LYNXEYE XE-T
O LYNXEYE XE-T é o único detector de energia dispersiva do mercaado que capta dados 0D, 1D e 2D. Pode ser usado em vários comprimentos de onda, de Cr e Ag, com alta taxa de contagem e melhor resolução angular, ideal para todas as aplicações de difração de raios x XRD e espalhamento de Raios X.
Com uma resoluçãpo superior a 380eV, o sistema possui o maior desempenho do mercado em termos de filtragem de fluorescência. Sem a necessidade de monocromadores secundários que acabam causando perda de intensidade.
O detector LYNXEYE XE-T possuí uma garantia exclusiva.
Para mais informações sobre essa versão, clique aqui.
D8 ADVANCE Plus
O D8 ADVANCE Plus é uma variante do D8 ADVANCE que representa a melhor plataforma de raios X para laboratórios multifuncionais e multiusuários.
A óptica patenteada TRIO permite a maior variedade de aplicações e tipos de amostras. Além de alternar automaticamente entre três caminhos de feixe:
- Focagem Bragg-Brentano
- Feixe paralelo de alta intensidade Kα1,2 para capilar, GID e XRR
- Geometria Kα1 de feixe paralelo de alta resolução para filmes finos epitaxiais
Pesquisa de Materiais
O Compact UMC e o Compact Cradle Plus estendem a capacidade de manuseio de amostras do D8 ADVANCE Plus, permitindo movimentos complexos e precisos da amostra. A platina Comact UMC apresenta movimento motorizado de 25 mm em X, 70 mm em Y e 52 mm em Z com capacidade de amostra de 2 kg para análise de grandes amostras a granel ou várias amostras menores. O Compact Cradle Plus inclui rotação Phi ilimitada e inclinação Psi de -5° a 95° para análise de tensão, textura e filme fino epitaxial. Além disso, o Compact Cradle Plus possui uma passagem de utilitário a vácuo que permite que as amostras sejam mantidas no lugar com um suporte de amostra de filme fino pequeno ou uma mesa XY manual grande. Ambos os estágios acomodam estágios de temperatura de cúpula para análise não ambiente. Eles também utilizam o sistema de montagem baioneta da platina DIFFRAC.DAVINCI para facilitar a troca da platina de amostra.
Detectores EIGER2 R
A forma de funcionamento multimodo 0D-1D-2D, com modo instantâneo e de varredura, permite que os detectores EIGER2 R sejam usados amplamente em vários métodos de medição, desde pesquisa de pós a materiais.
Com uma faixa dinâmica que permite medições sem absorvedor, tamanho 1D grande para medições de pó ultrarrápidas e mapas de espaço recíprocos rápidos e mais de 500k pixels para grande cobertura bidimensional, o EIGER2 define um novo padrão para detectores multimodo.
Para mais informações sobre a versão Plus, clique aqui.
Aplicações:
Difração de Pó
As técnicas de difração de raios X em pó (XRPD) estão entre as ferramentas mais importantes para a caracterização de materiais. Grande parte da informação embutida em um padrão de pó é derivada diretamente do arranjo atômico das fases presentes. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem a execução simples de métodos XRPD comuns:
- Identificação de fases cristalinas e amorfas e determinação da pureza da amostra
- Análise quantitativa de fases cristalinas e amorfas em misturas multifásicas
- Análise de microestrutura (tamanho de cristalito, micro deformação, desordem…)
- Tensão residual em massa resultante de tratamento térmico ou usinagem em componentes fabricados
- Análise de textura (orientação preferencial)
- Indexação, determinação da estrutura cristalina ab-initio e refinamento da estrutura cristalina
Análise da Função de Distribuição de Pares
A análise de função de distribuição de pares (PDF) é uma técnica analítica que fornece informações estruturais de materiais desordenados com base em Bragg, bem como espalhamento difuso (“Dispersão Total”). Enquanto os picos de Bragg fornecem informações sobre a estrutura cristalina média de um material (ou seja, ordem de longo alcance), o espalhamento difuso permite a caracterização de sua estrutura local (ou seja, ordem de curto alcance).
O software D8 ADVANCE e TOPAS representam as soluções de análise de PDF de maior desempenho do mercado em termos de velocidade de análise, qualidade de dados e resultados para análise de materiais amorfos, pouco cristalinos, nanocristalinos ou nanoestruturados:
- Identificação de fase
- Determinação e refinamento da estrutura
- Tamanho e forma de nanopartículas
Filmes Finos e Revestimentos
A análise de filmes finos e revestimentos é baseada nos mesmos princípios do XRPD, mas com mais condicionamento de feixe e controle angular. Exemplos típicos incluem, mas não estão limitados a, identificação de fase, qualidade cristalina, tensão residual, análise de textura, determinação de espessura e análise de composição versus deformação. A análise de filmes finos e revestimentos está se concentrando nas propriedades de materiais em camadas com espessura de nm a µm, variando de revestimentos amorfos e policristalinos a filmes cultivados epitaxialmente. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem análises de alta qualidade de filmes finos, incluindo:
- Difração de incidência de pastejo
- Reflectometria de Raios-X
- Difração de raios-X de alta resolução
- Mapeamento de espaço recíproco
Tensão Residual e Análise de Textura
A tensão residual e as medições de textura são coletadas rotineiramente em amostras de metal industrial onde os materiais são levados ao seu limite. Ao aliviar o estresse de tração ou induzir o estresse de compressão na superfície de uma amostra, sua vida funcional pode ser bastante estendida. Isso pode ser feito por meio de tratamentos térmicos ou processos físicos, como shot peening. A orientação dos cristalitos que compõem uma amostra em massa dita a maneira pela qual as rachaduras se propagarão. Ao formar texturas específicas em um material, suas propriedades podem ser aumentadas drasticamente. Ambas as técnicas também são importantes na otimização do método de fabricação de ponta, como a manufatura aditiva.
Leia mais:
- D8 ADVANCE Solução em Difração. Catálogo.
- D8 ADVANCE TWIN/TWIN: The Ingenious Beam Path Design in the D8 ADVANCE
- D8 ADVANCE ECO: Designed for the ecological and economical needs of today
- LYNXEYE XE-T – High-Resolution Position Sensitive Detector with Superb Energy Resolution
- Elemental Analysis & Metrology for Powder Metallurgy: Analytical Solutions for Modern Production Processes
- X-Ray Reflectometry with the EIGER2: Investigation of a Ta coating on Si and a GaN/AlN superlattice
- Rapid XRD Analysis of Pharmaceuticals: Snapshot 1D and 2D Mode with the EIGER2 R 500K
- Non-Ambient Diffraction with D8 ADVANCE ECO and MTC-HIGHTEMP
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