O DektakXT é um Perfilômetro de Contato, ele possibilita medições de superfície em nível micro e nanométrico para as indústrias e universidades. Realizando análises de ondulação e rugosidade, seguindo as normativas ISO 4287, ISO 4288 e ASME B46.1, com a maior rapidez do mercado. 

O Dimension FastScan é um Microscópio de Força Atômica (AFM) que possibilita pesquisas para investigar a estrutura e as propriedades de materiais em escalas nanométricas com imagens em alta resolução. Ele foi projetado para atender às necessidades de indústrias, universidades, centros de pesquisa e laboratórios multiusuários.

O ELEXSYS E580 FT/CW EPR é um espectrômetro de Ressonância Paramagnética Eletrônica (EPR) multifrequencial, projetado para oferecer máxima flexibilidade e sensibilidade em pesquisas acadêmicas e aplicações industriais. Com tecnologia de ponta, ele permite análises detalhadas e reprodutíveis de radicais livres, centros metálicos e outros sistemas paramagnéticos. Ideal para estudos que...

O ELEXSYS-II E500 CW-EPR é um espectrômetro de Ressonância Paramagnética Eletrônica Contínua (CW-EPR) projetado para oferecer máxima precisão e versatilidade em pesquisas acadêmicas e aplicações industriais. Com tecnologia avançada, ele proporciona análises sensíveis e reprodutíveis de radicais livres, centros metálicos e outros sistemas paramagnéticos. Ideal para estudos que exigem alta...

Microscópio eletrônico de varredura (MEV) equipado com filamento de tungstênio, oferecendo resolução inferior a 5nm e ampliação de até 150.000x. Conta com modos de vácuo HV e LV, detectores SE e BSE*, e uma mesa de amostra com inclinação ajustável. Ideal para análise de superfícies, controle de qualidade e pesquisa...

Microscópio eletrônico de varredura (MEV) de alto desempenho com filamento de tungstênio, proporcionando resolução inferior a 5nm e ampliação de até 250.000x. Equipado com detectores SE e BSE*, modos de vácuo HV, LV* e VP*, e sistema de vácuo eficiente, é ideal para análise de superfícies, caracterização de materiais e...

O EMXplus é um espectrômetro de Ressonância Paramagnética Eletrônica (EPR) desenvolvido para oferecer desempenho de alta precisão e flexibilidade, atendendo desde análises rotineiras até pesquisas científicas avançadas. Quando métodos convencionais não atendem, o EMXplus é a escolha ideal, permitindo a personalização de fluxos de trabalho e descobertas inovadoras. Com sua...

O Filme Fino é usado para preparar amostras líquidas e sólidas, em copos de amostras para análise em equipamentos de Fluorescência Raios X (também conhecido como FRX) de diferentes fabricantes.

O IP-10K da COXEM é um polidor de feixe de íons avançado, projetado para fresamento de precisão e preparação de amostras em níveis micro e nanométricos. Com opções como fresamento plano, módulo de resfriamento e proteção de ar, ele oferece alto desempenho para diversas aplicações científicas e industriais.

O Bruker M1 MISTRAL é um Espectrômetro de Microfluoresccência de Raios X (microXRF) compacto de bancada para análise química elementar em amostras irregulares, materiais a granel e análise de espessura de camadas e revestimentos. Ele permite análise de uma ampla gama de materiais, através da técnica de Fluorescência de Raios...

O M4 TORNADOAMICS reúne a análise de mapeamento químico elementar ultra-rápido e de alta resolução do espectrômetro M4 TORNADO da Bruker com o poderoso software de identificação e classificação de minerais AMICS (Advanced Mineral Identification and Characterization System.

O M4 TORNADOPLUS é o primeiro espectrômetro Micro-XRF do mundo que permite a deteção e a análise de toda a gama de elementos, desde elementos leves como o Carbono (C), até o Amerício (Am). Como o mais recente membro da comprovada família líder de mercado de analisadores µXRF, o M4...