ContourX-200 | Perfilômetro Óptico 3D

Perfilômetro Óptico 3D | ContourX-200

O ContourX-200 é um equipamento avançado de Perfilometria Óptica que emprega a técnica altamente precisa de interferometria de luz branca (WLI) para realizar medições de superfícies em 2D e 3D, tudo isso sem nenhum contato físico com a amostra, o que é fundamental para a compreensão profunda da rugosidade, textura e outras propriedades topográficas. Com um excelente equilíbrio entre custo e benefício, esse dispositivo proporciona imagens de altíssima resolução e é fabricado pela renomada líder de mercado, Bruker.

Além de ser uma ferramenta indispensável para universidades, o ContourX-200 também atende às demandas de indústrias em diversos campos, incluindo microeletrônica, semicondutores, energia solar, LEDs de alta luminosidade, medicina e ciência dos materiais.

Os relatórios de análise gerados pelo ContourX-200 são personalizados de acordo com as normas técnicas do setor, como ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287.

Também oferecemos Perfilômetros de Contato (Stylus), veja clicando aqui.

Leia: As Vantagens de Usar a Interferometria de Luz Branca para Medir a Rugosidade da Superfície.

Interferometria de Luz Branca (WLI)

O Perfilômetro Óptico 3D emprega a técnica de interferometria de luz branca para avaliar a textura das amostras. Essa abordagem possibilita a obtenção de informações tridimensionais rápidas e detalhadas, tornando-o uma escolha excelente para a investigação de aspereza, características texturais e outras propriedades relacionadas à topografia.

Uma limitação que a Interferometria de Luz Branca possui, é a resolução lateral limitada em comparação com sistemas de microscopia de força atômica, por isso, a Bruker desenvolveu uma tecnologia patenteada que visa superar esse problema.

Através da combinação de modelagem de sistema, medições de baixo ruído e múltiplas varreduras de superfície, o AcuityXR® reduz significativamente o borrão causado pelos elementos ópticos, aumentando consideravelmente a resolução lateral. Ampliando consideravelmente a capacidade do Perfilômetro Óptico 3D em uma ampla gama de aplicações.

Comparativo Escaneamento de Perfilômetria Óptica

As imagens tiradas com a tecnologia padrão (à esquerda) e AcuityXR (à direita) mostram uma grande melhoria na capacidade de tornar as imagens menos pixeladas enquanto mostram a estrutura adequada na amostra.

Leia mais informações sobre a tecnologia patenteada da Bruker clicando aqui.

Aspectos Positivos da WLI

Funcionamento da técnica: O perfilômetro emite um feixe de luz em direção à superfície da amostra. A luz emitida interage com a superfície da amostra, resultando em parte da luz refletida diretamente e outra parte sendo espalhada ou refratada, dependendo das características da superfície. Um sensor captura a luz refletida ou espalhada, e com base nessa informação, o perfilômetro conduz análises para determinar as variações de altura ao longo da superfície.

Medições Não Destrutivas: As medições são realizadas sem contato físico com a amostra, preservando a integridade do material.

Versatilidade: O equipamento pode analisar uma ampla gama de amostras, desde superfícies brilhantes, opacas, transparentes até as mais ásperas, permitindo uma aplicação diversificada.

Alta Resolução: Este perfilômetro oferece alta resolução nas medições, permitindo uma análise detalhada da topografia, mesmo em escalas microscópicas.

• A resolução vertical é <0,01 nm.

• A inclinação máxima da amostra deve ser de: ≤40° (superfícies brilhantes) ≤87° (superfícies ásperas)

• Faixa de refletividade: 0,05% a 100%

Automatizado: O software possui uma interface amigável, além de ser a mais avançada do setor, fornecendo um acesso intuitivo a uma extensa biblioteca de filtros pré-programados e análises para superfícies usinadas com precisão, filmes espessos e aplicações de tribologia.

O equipamento possui um eixo XY automatizado, além de focar a amostra de maneira automatizada, aumentando a rapidez na realização das análises.

Diversas Aplicações

Controle de Qualidade Industrial: São utilizados para verificar a textura superficial, incluindo rugosidade, ondulações, direção superficial predominante e imperfeições de peças e componentes fabricados, assegurando que atendam às especificações.
Pesquisa e Desenvolvimento: São essenciais para entender a topografia de materiais e investigar processos de desgaste, adesão e outros fenômenos de superfície.
Metalurgia e Materiais: Auxiliam na caracterização de materiais, estudos de corrosão, avaliação de camadas de revestimento e muito mais.
Indústria Eletrônica e Semicondutores: Permitem a medição de estruturas em microescala e nanoescala, como camadas finas em semicondutores, componentes eletrônicos e características de microfabricação.
Ótica e Dispositivos Ópticos: São usados para medir a superfície de lentes, espelhos, difratores e outros dispositivos ópticos para garantir a qualidade e eficiência óptica.
Medicina e Biomateriais: Permitem a análise da textura de implantes, dispositivos médicos, tecidos e outros materiais biológicos, auxiliando na pesquisa e desenvolvimento.