M1 MISTRAL | Espectrômetro de Microfluorescência de Raios X (microXRF)

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M1 MISTRAL | Espectrômetro de Microfluorescência de Raios X (microXRF)

O Bruker M1 MISTRAL é um Espectrômetro de Microfluoresccência de Raios X (microXRF) compacto de bancada para análise química elementar em amostras irregulares, materiais a granel e análise de espessura de camadas e revestimentos. Ele permite análise de uma ampla gama de materiais, através da técnica de Fluorescência de Raios X (XRF), que incluem metais, ligas metálicas, metais preciosos e jóias, análise de espessura de camadas / multicamadas e revestimentos de acordo com as normas ASTM B568 e DIN/ISO 3497, Método ideal para Controle de Qualidade em galvanoplastia, e análise de metais pesados de acordo com diretiva RoHS (Restrição de Substâncias Perigosas), WEEE, CPSIA e outras diretrizes.

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Fluorescência de Raios X (XRF)

Microfluorescência de Raios X (microXRF)

M1 MISTRAL – Microfluorescência de Raios X (microXRF)

O M1 MISTRAL – Microfluorescência de Raios X (microXRF) é um espectrômetro de Raios X compacto de bancada para análise química elementar em amostras irregulares, materiais a granel e análise de espessura de camadas e revestimentos. Ele permite análise de uma ampla gama de materiais, através da técnica de Fluorescência de Raios X (XRF), que incluem metais, ligas metálicas, metais preciosos e joias, análise de espessura de camadas / multicamadas e revestimentos de acordo com as normas ASTM B568 e DIN/ISO 3497, Método ideal para Controle de Qualidade em galvanoplastia, e análise de metais pesados de acordo com diretiva RoHS (Restrição de Substâncias Perigosas), WEEE, CPSIA e outras diretrizes.

O M1 MISTRAL permite medições não destrutivas em uma ampla gama de tamanhos de amostras sem qualquer necessidade de preparação. Concebido para garantir rapidez e economia operacional, produz informações exatas sobre a composição elementar dos materiais e espessura de camadas e revestimentos.

O instrumento oferece alta resolução espacial e tamanhos focais de até 100 µm. É possível analisar amostras com formas arbitrárias, como joias, sem maiores preparos e, mais importante, de forma não destrutiva. Permite a análise de amostras com dimensões de até 100x100x100 mm³. Um sistema vídeo-microscópio facilita a definição exato do ponto a ser medido na amostra. O plataforma XYZ motorizada, opcional, oferece maior flexibilidade e comodidade, além do eixo Z motorizado permitit um ajuste rápido do foco, inclusive de maneira automática com o sistema autofoco.

O M1 MISTRAL – Microfluorescência de Raios X (microXRF) é dotado de tubo de Raios X microfoco de alto brilho, que garante uma excelente excitação do ponto de medição, resultando em desempenho analítico incomparável. Com um pacote de softwares poderoso, porém de fácil utilização, o instrumento produz resultados quantitativos exatos e precisos, seja na análise de amostras em sólidas ou estruturas mais complexas com múltiplas camadas.

M1 MISTRAL oferece os seguintes benefícios para análise de revestimentos e camadas:

Resultados rápidos e precisos para medição espessura e composição de camadas e revestimento, assim como banhos gavânicos.
Análise completamente não destrutiva e muito rápida.
Capaz de medir amostras multicamadas com até 12 camadas.
Plataforma XYZ programável rápido para análise de revestimento multiponto de maneira automatizada.
O software XDATA fácil de usar permite que os usuários criem calibrações personalizadas para medição de espessura de revestimento e camadas
Funções de customização e geração de relatórios para fornecer e armazenar resultados de análise.
Análise de revestimento de acordo com as normas ASTM B568 e DIN/ISO 3497

Principais Aplicações

Medição de espessura de revestimentos e camadas em geral. Revestimentos de ligas compostas sobre um substrato AuNi e ZnNi sobre um substrato metálico, revestimentos níquel-fósforo sobre tipos vários substratos, como Cu ou Al, revestimentos multicamadas com duas ou mais camadas sobre um substrato (Cr/Ni/Cu), revestimentos eletrônicos multicamadas Au/Ni/Cu, SnAgCu/Cu, Au/Pd/Ni/Cu, revestimentos de joias como Au/Ni/Cu, Rh/ouro branco, PdNi/Latão, determinação da composição de revestimentos funcionais como a determinação do teor de fósforo em camadas NiP.
Análise de banhos galvânicos, soluções e líquidos em geral.
Medição em placas de circuitos impressos (PCBs – Printed Circuit Boards).
Teste revestimentos muito finos, por exemplo camadas de ouro e paládio ≤ 0,1 μm de espessura, nas indústrias eletrônica e semicondutores.
Medição de revestimentos na fabricação automotiva.
Medição de espessura do revestimento na indústria fotovoltaica.
Identificação de substâncias indesejáveis, por exemplo metais pesados, em componentes eletrônicos, embalagens, brinquedos e bens de consumo de acordo com RoHS, WEEE, CPSIA e outras diretrizes.
Análise de revestimentos de material rígido, por exemplo, CrN, TiN ou TiCN.
Análise de joias, moedas e ligas de metais preciosos com Au, Ag, Pt. A composição exata de ligas de joalheria, metais do grupo do ouro, platina ou prata podem ser determinados em uma fração de minutos. Os resultados podem ser emitidos em % em peso ou em quilates. A precisão é melhor que 0,2% em peso para o conteúdo do elemento principal na faixa de 40 a 100%
Análise geral em laboratórios, institutos e universidades.

Para informações adicionais acesse: Bruker – M1 MISTRAL e Bruker – Análise de Camadas e Revestimentos
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Detalhes Técnicos

Análise não destrutiva de amostras de formato irregular
O M1 MISTRAL é um espectrômetro para a análise precisa de amostras em granel e camadas que utiliza a técnica de micro-Fluorescência de Raios X (µ-XRF). Operando em atmosfera ambiente, permite análise de todos os elementos a partir do Titânio (Z = 22) . Isso permite a análise de uma ampla gama de diferentes categorias de amostras, incluindo metais, ligas e sistemas multicamadas metálicos.

Mesmo grandes amostras com tamanhos de até 100x100x100 mm³ podem ser analisadas. A excitação e a detecção da radiação de fluorescência ocorrem na parte de cima do instrumento, sem contato com a amostra. Isso permite que não haja contaminação da janela do detector pelas amostra e possibilita a medição em amostras de formatos diferentes, desde superfícies planas , até peças de joias com um formato mais irregular.

Medição com alta resolução espacial
O M1 MISTRAL é equipado com um Tubo de Raios X de microfoco de alto brilho, que é capaz de produzir uma alta intensidade de excitação, mesmo se o menor colimador disponível for usado para produzir um tamanho de ponto de apenas 100 µm. Os locais de medição podem ser identificados com precisão, usando a combinação de microscópio de vídeo e o estágio X-Y-Z motorizado opcional.

Configuração do detector de última geração
O M1 MISTRAL é equipado com um grande detector de desvio de silício de área ativa (SDD) para velocidade e resolução de energia superiores. O design do sistema de detecção e processamento de sinais garante eficiência máxima e velocidade de análise rápida.

Software poderoso
O pacote de software XSpect / XData fornece um gerenciamento de medição desde a aquisição de espectros, desde a avaliação até o relatório. Suas ferramentas suportam a análise de amostras a granel e revestimentos, usando quantificação baseada em padrão ou um modelo de Parâmetro Fundamental sem padrão. Resultados confiáveis podem ser obtidos facilmente e medições de rotina podem ser armazenadas para reutilização automatizada.

Fácil de usar e sem manutenção
Tanto o software quanto o M1 MISTRAL são projetados para uso por pessoal que pode ter recebido apenas treinamento introdutório ao sistema. Duas tomadas de energia são tudo o que é necessário para executar o sistema. Os consumíveis não são necessários, pois o resfriamento a ar é suficiente.