DektakXT | Perfilômetro de Contato (Stylus)

DektakXT | Perfilômetro de Contato

O DektakXT é um Perfilômetro de Contato que possibilita medições 2D e 3D de superfícies em nível nanométrico, para as indústrias de microeletrônica, semicondutores, energia solar, LEDs de alta luminosidade, medicina e ciência dos materiais.

Cumprindo as normativa internacionais ISO4287, ISO 4288 e ASME B46.1. Veja a nota de aplicação clicando aqui.

Também temos: Perfilômetros Ópticos 3D, veja clicando aqui.

Análise Rápida para a Indústria: Utilizando um estágio de digitalização exclusivo de acionamento direto, o DektakXT acelera os tempos de varredura de medição em 40%, mantendo o melhor desempenho na indústria e na academia. Com repetitividade de 4Å.Mapeamento 3D.

Aplicações de um Perfilômetro de Contato

Controle de Qualidade Industrial: O perfilômetro stylus é amplamente utilizado para verificar a rugosidade e textura de peças e componentes fabricados. Isso assegura que os produtos atendam às especificações e padrões de qualidade.
Microfabricação: Na indústria de microfabricação, o perfilômetro de contato é usado para medir estruturas em microescala, como circuitos integrados, microchips e dispositivos MEMS (Sistemas Microeletromecânicos).
Metalurgia e Materiais: É empregado na caracterização de materiais, estudos de corrosão, avaliação de camadas de revestimento e análise de propriedades superficiais de metais e ligas.
Controle de Processos: É usado para monitorar processos de usinagem, retificação, polimento e outros, garantindo que as operações sejam realizadas de acordo com as especificações.
Pesquisa e Desenvolvimento: O perfilômetro stylus é uma ferramenta essencial em P&D para entender a topografia de materiais, investigar processos de desgaste, adesão e outros fenômenos de superfície.

O DektakXT realiza análises topográficas ou de rugosidade superficial

• Textura Superficial

• Rugosidade (nano e micro rugosidades)

Flutuações na superfície em pequenas ondas, caracterizado por máximos e mínimos locais com amplitudes e espaçamentos variáveis

Parâmetros R e S.

• Ondulações (macro rugosidades)

Flutuações na superfície, geralmente produzidas por imperfeições na ferramenta, vibrações e tensões de deformação

• Direção superficial predominante (estrias)

Direção do padrão superficial predominante, é determinada pelo processo de produção.

• Imperfeições (sulco, risco, trinca, poro, recobrimento, erosão pitting)

Não intencionais e inesperadas levando a interrupções na textura.

Parâmetros de Ondulação e Rugosidade

-Rugosidade e ondulação média (Ra e Wa)

-Rugosidade quadrática média (Rq, RMS e Wq)

-Perfil de altura média (Rc e Wc)

-Perfil de altura máxima (Rz e Wz)

-Distância vertical entre o pico mais alto e o vale mais baixo (Rt, Rmax e Wt)

-Pico mais alto (Rp e Wp)

-Vale mais profundo (Rv e Wv)

-Fator de assimetria (Rsk, Wsk ou Skewness)

-Fator de achatamento ou angulosidade (Rku, Wku ou Kurtosis)

-Largura média (Rsm e Wsm)

-Raiz quadrada média da inclinação (RΔq e WΔq)

Além de realizar o perfil total.

Software Bruker’s Vision64

O software oferece uma interface de usuário mais simples e intuitiva. Isso em conjunto com a automação do equipamento permite uma coleta e análise de dados mais rápida e abrangente. Além disso, o software de operação e análise de processamento paralelo, permite o carregamento mais rápido de arquivos 3D e a aplicação mais rápida de filtros e análises de bancos de dados multiscan.