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Lab Report: Uso do WDXRF para controle de qualidade de cimento
O controle de qualidade de cimento feito com o WDXRF respeita as principais normas internacionais: ASTM C114 e ISO 29581-2 / DIN EN 196-2.

Como Selecionar Filmes Finos para Análise de Fluorescência de Raios X (XRF)
A escolha de Moinhos para Laboratório envolve muitos fatores e pode ser um trabalho complexo, incluímos nesse texto o que você precisa saber.

O Método de Kjeldahl e como reduzir os custos da análise de nitrogênio e proteína
O método de Kjeldahl é usado para a determinação de Nitrogênio Total e Proteína Bruta, usado amplamente em alimentos e plantas. O método ocorre em três etapas que usam uma grande quantidade de reagentes, saiba como reduzir.

Métodos Alternativos ao Kjeldahl para Análise de Proteínas
O método de Kjeldahl é usado para a determinação de Nitrogênio Total e Proteína Bruta, usado amplamente em alimentos e plantas. O método ocorre em três etapas, que são longas, conheça alternativas.

Preparo de amostras para análise de TXRF
A Fluorescência de Raios X por Reflexão Total (TXRF) é um método analítico muito versátil e adequado para a análise de multielementar de qualquer tipo de amostra. Devido a calibração de fábrica, a avaliação e quantificação do espectro é rápida e simples. Para a maioria das análises elementares, a digestão da amostra não é necessária e a preparação da amostra requer apenas alguns passos, como descrito aqui para alguns tipos comuns de amostras.
Categorias
- Tribômetro
- Sistema de Polimento e Ataque Eletrolítico Automático
- Série de Durômetros Micro Vickers/Knoop
- Série de Durômetros Macro Vickers/Knoop
- RMN – Ressonância Magnética Nuclear
- Retificadora de Superfície Espectroscópica de Bancada
Prensa de Montagem Automática
- Polidor de Feixe de Íons
Perfilometria
- Microscópio de Força Atômica
Microscópicos Metalúrgicos
- Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV
- Metalografia Portátil
Material de Laboratório de Uso Geral
- Máquinas de Retificação e Polimento
Máquinas de Preparação de Amostras Metalográfica de Alto Volume
Máquinas de Corte
- Máquina de Corte Geológico Automática
- Ion Sputter Coater
- Fresadora de Superfície Fina Espectroscópica
- Fluorescência de Raios X por Energia Dispersiva (EDXRF)
Fluorescência de Raios X (XRF)
- Espectroscopia UV/Visível/NIR
- Espectroscopia Raman
- Espectrômetros por Infravermelho Próximo (NIR)
- Equipamentos para Preparação de Amostra
- Equipamentos Gerais
EPR – Espectrômetro de Ressonância Paramagnética Eletrônica
- Durômetro Rockwell/Superficial Rockwell
- Difração de Raios X (XRD)
Cromatografia
Consumíveis
Centrífugas de Laboratório
- Analisadores Hiperespectrais Portáteis UV-Vis-NIR
- Analisador Elementar Online por Ativação de Nêutrons Gama (PGNAA)
- Analisador de Tamanho de Partículas Online (PSA)