ContourX-100 | Perfilômetro Óptico 3D

Perfilômetro Óptico 3D | ContourX-100

O ContourX-100 é um Perfilômetro Óptico que utiliza a técnica de interferometria de luz branca (WLI) para realizar medições de superfícies em 2D e 3D sem contato físico com a amostra, o que é essencial para entender a rugosidade, textura e outras propriedades topográficas. Com o melhor custo-benefício do mercado, ele proporciona imagens de alta resolução, sendo fabricado pela renomada empresa Bruker, líder de mercado nesse segmento. Destinado a universidades e indústrias nos campos de microeletrônica, semicondutores, energia solar, LEDs de alto brilho, medicina e ciência dos materiais.

Relatórios de análise personalizados de acordo com as normas técnicas do setor, como ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287.

Também temos: Perfilômetros de Contato (Stylus), veja clicando aqui.

Leia: As Vantagens de Usar a Interferometria de Luz Branca para Medir a Rugosidade da Superfície.

Interferometria de Luz Branca (WLI)

O Perfilômetro Óptico utiliza a técnica de interferometria de luz branca para medir variações de altura na superfície das amostras. Isso permite a captura de detalhes em 3D, tornando-o ideal para a análise de rugosidade, textura e outras propriedades topográficas.

Funcionamento da técnica: O perfilômetro emite luz, em direção à superfície da amostra. A luz emitida interage com a superfície da amostra e parte da luz é refletida diretamente, enquanto outra parte é espalhada ou refratada, dependendo das propriedades da superfície. Um detector captura a luz refletida ou espalhada, e a partir dessa informação, o perfilômetro realiza análises para determinar as variações de altura ao longo da superfície.

Medições Não Destrutivas: Graças à técnica de WLI, as medições são realizadas sem contato físico com a amostra, preservando a integridade do material.

Versatilidade: O ContourX-100 é capaz de analisar uma ampla gama de amostras, desde superfícies brilhantes, opacas, transparentes até as mais ásperas, permitindo uma aplicação diversificada em várias indústrias.

Alta Resolução: Este perfilômetro oferece alta resolução nas medições, permitindo uma análise detalhada da topografia, mesmo em escalas microscópicas.

•A resolução vertical é <0,01 nm.

•A inclinação máxima da amostra deve ser de: ≤40° (superfícies brilhantes)
≤87° (superfícies ásperas)

Intuitivo: O sistema de bancada com capacidade de medição apresenta a interface amigável mais avançada do setor para fornecer acesso intuitivo a uma extensa biblioteca de filtros pré-programados e análises para superfícies usinadas com precisão, filmes espessos e aplicações de tribologia.

O ContourX-100 Possui Diversas Aplicações

Controle de Qualidade Industrial: São utilizados para verificar a textura superficial, incluindo rugosidade, ondulações, direção superficial predominante e imperfeições de peças e componentes fabricados, assegurando que atendam às especificações.
Pesquisa e Desenvolvimento: São essenciais para entender a topografia de materiais e investigar processos de desgaste, adesão e outros fenômenos de superfície.
Metalurgia e Materiais: Auxiliam na caracterização de materiais, estudos de corrosão, avaliação de camadas de revestimento e muito mais.
Indústria Eletrônica e Semicondutores: Permitem a medição de estruturas em microescala e nanoescala, como camadas finas em semicondutores, componentes eletrônicos e características de microfabricação.
Ótica e Dispositivos Ópticos: São usados para medir a superfície de lentes, espelhos, difratores e outros dispositivos ópticos para garantir a qualidade e eficiência óptica.
Medicina e Biomateriais: Permitem a análise da textura de implantes, dispositivos médicos, tecidos e outros materiais biológicos, auxiliando na pesquisa e desenvolvimento.