A Fluorescência de Raios X por Reflexão Total (TXRF) é um método analítico muito versátil e adequado para a análise de multielementar de qualquer tipo de amostra. Devido a calibração de fábrica, a avaliação e quantificação do espectro é rápida e simples. Para a maioria das análises elementares, a digestão da amostra não é necessária e a preparação da amostra requer apenas alguns passos, como descrito aqui para alguns tipos comuns de amostras.
Rastreio Confiável, Preciso e Rápido para Elementos Restritos na Diretiva RoHS com Micro-XRF 1. DIRETIVA RoHS A norma 2002/95/EU, emitida pelo Parlamento e pelo Conselho da União Europeia, também conhecida como RoHS (Restriction of Certain Hazardous Substances, ou em Português Restrição de Certas Substâncias Perigosas) é uma diretiva adotada em Janeiro de 2003 pela União …
Triagem Rápida e Simples de Conformidade RoHS com micro-XRF Leia mais »
O hélio é um dos elementos mais comuns e leves do universo. O ponto de ebulição do hélio está mais próximo do zero absoluto do que qualquer outro elemento e, como tal, é utilizado como meio de resfriamento em grandes equipamentos contendo magnetos, como, por exemplo, em hospitais em todo o mundo. O hélio também …
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A análise por Fluorescência de Raios X (XRF) é uma das melhores técnicas analíticas para realizar a análise elementar em todos os tipos de amostras (líquidos, sólidos ou pós). A técnica de XRF combina maior exatidão e precisão, com uma preparação de amostras rápida e simples para a análise de elementos de Berílio (Be) a …
Fluorescência de Raios X na Análise Geoquímica Elementar Leia mais »
A técnica de Difração de Raios X de Pó (Powder XRD), também conhecida como Difração de Raios X de Policristais, tornou-se uma ferramenta cada vez mais útil nos últimos anos e tem sido utilizada em diversas áreas de pesquisa e desenvolvimento, bem como em procedimentos de controle de qualidade em vários setores, incluindo materiais de …
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